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MTA 技術セミナー

タイトル:「不確かさの評価と関連する数学の基礎」      

日時: 2002年9月11日(水)、9月12日(木) の2日間
    両日とも午前9時−午後5時
場所: 中小企業会館 8階会議室 (銀座松屋裏) (ご参加頂ける方には地図を送付申 し上げます)
       (東京都中央区銀座1丁目 JRAウィンズ場外馬券売場北隣のビル。
       営団地下鉄有楽町線銀座一丁目駅10、11番出口より徒歩1分、銀座線銀座駅A8、A13出口より徒歩3分、
       都営地下鉄浅草線東銀座駅A7、A8出口より徒歩3分、JR有楽町駅より徒歩10分)
参加費: 2日間合計6万円(税込み)
なお、7月29日に後述の第1、第5分冊を使用したセミナーを実施しておりますが、そのセ ミナーにご参加頂きました方々は3万円(2日間ご出席された場合でも)とさせて頂きます。
参加申込: (有)MTAジャパンまでE-mailまたはFaxでお申込ください。お問合せは Tel: 03-3665-0097 まで。
講師: エム・ティ・エー・ジャパン 遠藤 忠
(前電子技術総合研究所 基礎計測部長)...................... 講師紹介
主催者: 有限会社エム・ティ・エー・ジャパン
          E-mail:  17025@mtajpn.com     Fax: 03-3665-0194

本セミナーの詳細

1.タイトル: 不確かさの評価と関連する数学の基礎

2.本セミナーの目的
試験所(校正事業所、試験事業所)認定制度において、測定結果に不確かさの評価を 取り込むことが必然となってきています。かかる環境の下、測定の不確かさの評価の 方法についての指針を与える唯一の教科書としてISO-GUM (Guide to the Expession of Uncertainty in Measurement) が存在し、世界中で広く利用されてきております。 そこで本セミナーでは、現場の計測技術者の方々が自信をもって試験報告書(校正報 告書)を作成できるように、ISO-GUMに基づく不確かさの評価法とその背景にある数 学的な基礎の理解を深めることを目的としております。

3.本セミナーの内容

9月11日(水曜) 9−17 時
セミナーコースノート第2−4分冊
第2分冊:GUMの理解に必要な数学の基礎の復習
       1.サンメーション記号
       2.微分、偏微分の基礎
       3.積分の基礎
       4.テーラー展開
第3分冊:繰返し測定データの統計的取扱いにいついての数学的基礎
       1.母集団と標本
       2.母集団のパラメータ(期待値、平均値、標準偏差)
       3.標本のパラメータ(標本平均値、標本標準偏差、自由度)
       4.自由度とt−分布
第4分冊:GUMに基づく測定の不確かさ評価の概要
       1.GUMに基づく不確かさ評価のバジェット表
       2.従来の誤差評価とGUMに基づく不確かさ評価の差異
       3.タイプA評価、タイプB評価
       4.GUMに基づいた不確かさ評価のプロセス

9月12日(木曜) 9−17 時
セミナーコースノート 第1、第5分冊
第1分冊:不確かさ評価の一般原理
       1.不確かさ評価の背景にあるもの
       2.不確かさ評価の一般原理
第5分冊:GUMに基づいた不確かさ評価の数学的取扱い
       1.考慮すべき不確かさ要因の列挙と測定の数学モデル化
         &nbsp1.1 測定の数学モデル一般形式
         &nbsp1.2 測定の数学モデル化の手順
       2.測定の実施
       3.測定の導出
         &nbsp3.1 測定値導出の一般形式
         &nbsp3.2 測定値導出の手順
       4.不確かさ(不確かさ成分)ごとの不確かさの評価
         &nbsp4.1 タイプA評価、タイプB評価と標準不確かさ
         &nbsp4.2 各不確かさ要因毎の標準不確かさの導出例
       5.統合標準不確かさの導出
         &nbsp5.1 統合標準不確かさの一般形式
         &nbsp5.2 初歩的数学による統合標準不確かさの誘導と感度係数の意味合い
         &nbsp5.3感度係数の導出例
         &nbsp5.4統合標準不確かさと確率
       6.拡張不確かさの表明
         &nbsp6.1拡張不確かさの一般形式
         &nbsp6.2拡張不確かさの決定




講師紹介
遠藤 忠
慶應義塾大学工学部計測工学科卒業。同修士課程修了。工学博士。
通産省電子技術総合研究所(現独立行政法人産業技術総合研究所)勤務(1968.4〜2001.3)。 国際度量衡局(BIPM、パリ在)客員研究員(1984.8〜1986.12)。
ジョセフソン効果電圧標準、量子ホール効果抵抗標準、交流/直流変換標準、キャパシタンス標準、単一電子量子電流標準の研究開発および極低温デバイスの精密電気計測への応用の研究開発に従事。
NATA(オーストラリア国試験所認定機関)認定テクニカル・アセッサー (電気分野)、応用物理学会、電気学会、日本物理学会会員。
当社取締役、技術本部長
Email: tendo@mtajpn.com



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